中国科技院:碳化硅 MOSFET 反向导通特性建模研究 文章来源:电 工 电 能 新 技 术 作者:周志达1,2, 葛琼璇1, 赵 鲁1, 杨 博1,2(1. 中国科学院电力电子与电气驱动重点实验室, 中国科学院电工研究所;2. 中国科学院大学,) 摘要: 碳化硅宽禁带半导体器件因其损耗小、开关… 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论
中国科技院:碳化硅 MOSFET 反向导通特性建模研究 文章来源:电 工 电 能 新 技 术 作者:周志达1,2, 葛琼璇1, 赵 鲁1, 杨 博1,2(1. 中国科学院电力电子与电气驱动重点实验室, 中国科学院电工研究所;2. 中国科学院大学,) 摘要: 碳化硅宽禁带半导体器件因其损耗小、开关… 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论
作者: 中国科技院:碳化硅 MOSFET 反向导通特性建模研究 文章来源:电 工 电 能 新 技 术 作者:周志达1,2, 葛琼璇1, 赵 鲁1, 杨 博1,2(1. 中国科学院电力电子与电气驱动重点实验室, 中国科学院电工研究所;2. 中国科学院大学,) 摘要: 碳化硅宽禁带半导体器件因其损耗小、开关… 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论
中国科技院:碳化硅 MOSFET 反向导通特性建模研究 文章来源:电 工 电 能 新 技 术 作者:周志达1,2, 葛琼璇1, 赵 鲁1, 杨 博1,2(1. 中国科学院电力电子与电气驱动重点实验室, 中国科学院电工研究所;2. 中国科学院大学,) 摘要: 碳化硅宽禁带半导体器件因其损耗小、开关… 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论